标题：
欠陥検出方法、有機EL素子のリペア方法、および有機EL表示パネル
授权日：
2017-05-19
公开(公告)号：
JP6142212B2
申请日：
2013-02-22
公开(公告)日：
2017-06-07
当前申请(专利权)人：
株式会社JOLED
发明人：
島村 隆之 | 林田 芳樹 | 塩田 昭教 | 土田 臣弥
简单同族：
CN103733728A | CN103733728B | JP6142212B2 | JPWO2013186961A1 | US20140154818A1 | US9121914 | WO2013186961A1
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
15
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移