标题：
基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
CN110428762A
申请日：
2019-07-10
公开(公告)日：
2019-11-08
当前申请(专利权)人：
武汉精立电子技术有限公司 | 武汉精测电子集团股份有限公司
发明人：
洪志坤 | 张胜森 | 欧昌东 | 郑增强
简单同族：
CN110428762A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查