标题：
발명의 명칭 액정 디스플레이에서의 공통 전극선의 단선 불량의 측정 방법
授权日：
2012-01-18
公开(公告)号：
KR101109760B1
申请日：
2009-12-18
公开(公告)日：
2012-03-13
当前申请(专利权)人：
베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드
发明人：
허시앙페이 | 펑쯔롱
简单同族：
CN101750765A | CN101750765B | JP2010146004A | JP5514530B2 | KR101109760B1 | KR1020100071018A | US20100158347A1 | US8417020
简单同族成员数量：
8
简单同族被引用专利总数：
10
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移